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超大规模集成电路测试:数字、存储器和混合信号系统
— (美) MICHAEL L. BUSHNELL, VISHWANI D. AGRAWAL著
索 书 号 :TN470.7/1
标准编码: 7-121-01490-4
出版信息:电子工业出版社 2005 北京
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