— 电子元器件参数计量测试大全编委会

索 书 号 ：TN606/2

标准编码： 7-5053-0430-5

出版信息：电子工业出版社  2002  北京

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— 武汉工学院电子工程系

索 书 号 ：O441.4-44/1

出版信息：出版者不祥]  1980  [出版地不祥

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— 电子世界编辑部编

索 书 号 ：TN07/1

标准编码： 7-5023-1362-1

出版信息：科学技术文献出版社  2002  北京

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— 美国纽约摄影学院原著 = NEW YORK INSTITUTE OF PHOTO

索 书 号 ：J4/3/1

标准编码： 7-80007-348-3

出版信息：中国摄影出版社  2000  北京

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— 美国纽约摄影学院原著 = NEW YORK INSTITUTE OF PHOTO

索 书 号 ：J4/3/2

标准编码： 7-80007-349-1

出版信息：中国摄影出版社  2000  北京

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— （德）施林德尔=SCHLUNDER，E.U.主编

索 书 号 ：TK172-62/2/2

标准编码： 7-111-00595-3

出版信息：机械工业出版社  1989  北京

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— （美） 迈克尔·I·杜克 ... [等] 著 = MICHAEL I. DU

索 书 号 ：F016-39/1

标准编码： 7-300-05261-4

出版信息：中国人民大学出版社  2004  北京

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— （美） 迈克尔·I·杜克 ... [等] 著 = MICHAEL I. DU

索 书 号 ：F015-39/1

标准编码： 7-300-05260-6

出版信息：中国人民大学出版社  2004  北京

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— 机械电子工业部工程农机司编

索 书 号 ：S22/23

出版信息：机械电子工业出版社  1991  北京

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— 电子工业科技委敏感元件咨询组等编

索 书 号 ：TH703.2/1

出版信息：电子工业出版社  1983  北京

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